Skenovací mikroskop atomových sil, který umožňuje zobrazování elektronických struktur, senzorů, biologických struktur až po jednotlivé atomy. Zařízení bude využito především v oblasti mechanických a elektronických zabezpečovacích systémů pro výzkum a vývoj nových materiálů vhodných pro konstrukci bezpečnostních dveří a okenních rámů, vývoj bezpečnostních prvků, bezpečnostních folií a skel odolných proti rozbití.

MAC Mode III

Parametry:

  • Vstupní frekvenční rozsah: 200Hz až 6MHz; -3dB
  • Výstup: devět softwarově volitelných hodnot ( 80Hz a 100Hz, 200Hz, 500Hz, 1kHz, 2kHz, 5kHz, 10 kHz, 20 kHz)
  • Frekvenční rozlišení: 0.009Hz
  • Tři zesilovače modulů