Skenovací mikroskop atomových sil, který umožňuje zobrazování elektronických struktur, senzorů, biologických struktur až po jednotlivé atomy. Zařízení bude využito především v oblasti mechanických a elektronických zabezpečovacích systémů pro výzkum a vývoj nových materiálů vhodných pro konstrukci bezpečnostních dveří a okenních rámů, vývoj bezpečnostních prvků, bezpečnostních folií a skel odolných proti rozbití.

AFM Skenovací mikroskop atomových sil

Parametry:

  • Skenovací rozsah: 90μm x 90μm x 8μm
  • Hlučnost: 0.5Å

Velký víceúčelový scanner:

  • Skenovací rozsah: 90μm x 90μm
  • Z-rozsah: 8μm

Malý scanner:

  • Skenovací rozsah: 9μm x 9μm
  • Z-rozsah: 2μm