Skenovací mikroskop atomových sil, který umožňuje zobrazování elektronických struktur, senzorů, biologických struktur až po jednotlivé atomy. Zařízení bude využito především v oblasti mechanických a elektronických zabezpečovacích systémů pro výzkum a vývoj nových materiálů vhodných pro konstrukci bezpečnostních dveří a okenních rámů, vývoj bezpečnostních prvků, bezpečnostních folií a skel odolných proti rozbití.
AFM Skenovací mikroskop atomových sil
Parametry:
Velký víceúčelový scanner:
Malý scanner: