Skenovací mikroskop atomových sil, který umožňuje zobrazování elektronických struktur, senzorů, biologických struktur až po jednotlivé atomy. Zařízení bude využito především v oblasti mechanických a elektronických zabezpečovacích systémů pro výzkum a vývoj nových materiálů vhodných pro konstrukci bezpečnostních dveří a okenních rámů, vývoj bezpečnostních prvků, bezpečnostních folií a skel odolných proti rozbití.

Ramanův mikrospektrometr InVia Basis

Parametry:

  • Spektrograf s ohniskovou vzdáleností: f = 250 mm (propustnost < 30%)
  • Nejmenší stopa laserového svazku : d = 1 μm (dle objektivu a vlnové délky laseru)
  • Velikost stopy laseru v rozsahu: od 1 μm až 300 μm
  • Rayleighův dielektrický filtr optimalizovaný na vlnovou délku: 514 nm
  • Motorizovaný nosič difrakčních mřížek s vestaveným úhlovým odměřováním nesoucí magneticky upnutou difrakční mřížku s hustotou 1800 čar/mm
  • Technologie Synchroscan